電気的性質
1. 各種品番の絶縁破壊強さ
ルミラー®は非常に大きな絶縁破壊強さを有します。
各種品番のルミラー®について、60Hzの周波数で測定した絶縁破壊電圧は図1に示すとおりです。
測定法はJIS C 2318 - 72 で試験条件は20°Cです。
また図1より単位厚さ当りの絶縁破壊電圧、すなわち絶縁破壊強さは図2に示すとおりです。
2. 絶縁破壊強さの温度による変化
ルミラー®の絶縁破壊強さは100°C付近まではほとんど変化せず、150°Cになってもなお常温のほぼ90%の値を保持します。
#25（25μ）および#50（50μ）のルミラー®の絶縁破壊強さの温度による変化は、図3に示すとおりです。
3. 絶縁破壊強さの湿度による変化
ルミラー®の絶縁破壊強さは50%RH付近まではほとんど変化せず、100%RHになってもなお常湿の80%の値を保持します。
#50（50μ）のルミラーの20°Cおよび40°Cにおける絶縁破壊強さの湿度による変化は、図4に示すとおりです。
4. 誘電率の周波数による変化
#25（25μ）のルミラー®の各種温度における誘電率の周波数に対する変化は、図5に示すとおりです。
測定法は JIS C 2318 - 72です。
なお、いずれの品番（厚さ）の ルミラー®もほとんど同じ値の誘電率を示します。
5. 誘電率の温度による変化
#25（25μ）のルミラー®の1KHzにおける誘電率の温度による変化は、図6に示すとおりです。
測定法は JIS C 2318 - 72です。
6. 誘電正接の周波数による変化
#25（25μ）のルミラー®の各種温度における誘電正接の周波数による変化は、図7に示すとおりです。
測定法は JIS C 2318 - 72です。
なお、いずれの品番（厚さ）のルミラー®もほとんど同じ値の誘電正接を示します。
7. 誘電正接の温度による変化
#25（25μ）のルミラー®の1 KHzにおける誘電正接の温度による変化は、図8に示すとおりです。
測定法は JIS C 2318 - 72です。
8. 体積抵抗率の温度による変化
#25（25μ）および#50（50μ）のルミラー®の体積抵抗率の温度による変化は、図9に示すとおりです。
測定法は JIS C 2318 - 72です。
9. 表面抵抗率の温度による変化
#25（25μ）および#50（50μ）のルミラー®の表面抵抗率の温度による変化は、図10に示すとおりです。
測定法は ASTM D 257 - 66です。
10. 各種品番のコロナ放電電圧
各種品番のルミラー®のコロナ放電開始電圧および放電消滅電圧は、図11に示すとおりです。
測定回路および測定電極は図12および図13に示すとおりです。
11. 耐コロナ寿命
60Hzの周波数で発生するコロナ放電によってルミラー®が絶縁破壊を起すまでの時間、すなわち耐コロナ寿命の電界強さによる変化は、図14に示すとおりです。
測定に用いたサンプルの厚さは、#50（50μ）および #75（75μ）で、測定法は IEC (15B) Electrode Method です。
