电气特性
1. 各种产品编号的介质击穿强度
Lumirror® 具有极高的介电击穿强度。
图 1 显示了以 60 Hz 频率测量的各种 Lumirror® 产品编号的击穿电压。
测量方法是 JIS C 2318-72，测试温度为 20℃。
图 1 显示了每个单元厚度的击穿电压，介电击穿强度如图 2 所示。
2. 介质击穿强度随温度的变化
高达约 100℃，Lumirror® 的电介质击穿强度几乎不改变。即使在 150℃ 下，它仍可保持 90% 的室温条件下性能。
图 3 显示了 #25 (25 μ) 和 #50 (50 μ) Lumirror® 介电击穿强度随温度的变化。
3. 因湿度不同的介质击穿强度变化
高达约 50% RH，Lumirror® 的电介质击穿强度几乎不改变。即使在 100% RH 下，它仍可保持 80% 的正常湿度下性能。
图 4 显示因湿度不同 #50 (50 μ) Lumirror® 的介质机床强度在 20℃ 和 40℃ 下的变化。
4. 因频率不同的介电常数变化
图 5 显示了因频率不同 #25 (25 μ) Lumirror® 介电常数在各种温度条件下的变化。
测量方法是 JIS C 2318-72。
值得注意的是，Lumirror® 的任何产品编号（厚度）显示的电介质常数几乎相同。
5. 介电常数随温度的变化
图 6 显示了 #25 (25 μ) Lumirror® 介电常数在 1 Khz 时随温度的变化。
测量方法是 JIS C 2318-72。
6. 因频率不同的消耗因数变化
图 7 显示了因频率不同 #25 (25 μ) Lumirror® 消耗因数在各种温度条件下的变化。
测量方法是 JIS C 2318-72。
值得注意的是，Lumirror® 的任何产品编号（厚度）显示的消耗因数几乎相同。
7. 消耗因数随温度的变化
图 8 显示了 #25 (25 μ) Lumirror® 消耗因数在 1 Khz 时随温度的变化。
测量方法是 JIS C 2318-72。
8. 体积电阻率随温度的变化
图 9 显示了 #25 (25 μ) 和 #50 (50 μ) Lumirror® 体积电阻率随温度的变化。
测量方法是 JIS C 2318-72。
9. 表面电阻率随温度的变化
图 10 显示了 #25 (25 μ) 和 #50 (50 μ) Lumirror® 表面电阻率随温度的变化。
测量方法为 ASTM D 257-66。
10. 各种产品编号的电晕放电电压
图 11 显示了各种 Lumirror® 产品编号的电晕放电起始电压和放电熄灭电压。
图 12 和 13 显示了测量电路和体表电极。
11. 耐电晕寿命
图 14 显示了 Lumirror® 承受因电晕放电产生的频率为 60 Hz 介质击穿所用的时间，换句话说，是因电场强度不同的耐电晕寿命变化。
测量的样品厚度为 #50 (50 μ) 和 #75 (75 μ)，测量方法为 IEC(15B) 电极法。
